Микросхемы (чипы) компьютеров пользователи будут тестировать на дефекты

Микросхемы (чипы) компьютеров пользователи будут тестировать на дефекты

Компьютерные микросхемы (чипы), содержащие миллиарды соединенных один с другим транзисторов, изготавливаются на высокотехнологичном оборудовании. Однако этот факт всё равно не оставляет полных гарантий производства без дефектов. И вот, методика, разработанная инженерами института Пола Шерера (Швейцария) совместно с инженерами Школы инженерии USC Viterbi, обещает изменить ситуацию. Новый метод позволит выполнять неразрушающее сканирование микросхем на предмет целостности всех элементов чипа.

Технология тестирования электроники

Новый метод допускает тестирование целостности компьютерных микросхем посредством рентгеновских лучей. Именно поэтому технология именуется рентгенографической ламинографией. Тестирование осуществляется рентгеновскими лучами синхротрона, когда небольшая область вращающегося чипа подсвечивается лучом под углом 61º относительно плоскости чипа.

Полученные дифракционные картины исследуются матрицей детекторов, оснащенной счетчиком фотонов. Затем полученные данные применяются для генерации внутренней картинки микросхемы, с высоким разрешением и последующим формированием трёхмерных изображений.

Готовые трёхмерные изображения сравниваются с оригинальным исполнением, подобно одному из видов криминалистической экспертизы. Так осуществляется проверка компьютерных чипов на правильное изготовление микросхем в соответствии с проектным спецификациям.

Разработчиками отмечается: электронным компонентам присущи характерные конструкционные черты, поэтому есть все основания говорить, как и где изготавливались микросхемы. Однажды новая технология может внести вклад в процесс сертификации, гарантируя полностью целостность микросхем. Подобного рода чипы традиционно вставляются в компьютер или иное коммуникационное оборудование.

Применение технологии на практике

Методика сканирования и тестирования, предложенная специалистами института Пола Шерера (Швейцария) совместно с инженерами Школы инженерии USC, обещает найти широкое применение. Съёмные компьютерные чипы (микроконтроллеры) применяются практически во всех моделях современных компьютеров.

Нередко по причине дефекта микросхемы эксплуатируемая аппаратура не обеспечивает полного комфорта работы. Эксплуатируемый компьютер:

  • работает медленно,
  • перезагружается,
  • блокируется.

Неспециалисту в компьютерной технике крайне сложно определить такого рода дефекты. Впрочем, специалисты также неспособны определить дефект без специальной аппаратуры.

Так вот теперь, после разработки новой технологии, ситуация может кардинально измениться. При этом не только специалистам станет доступна эффективная сканирующая техника, но также обычные пользователи компьютеров получат возможность пользоваться таким инструментом. Другой вопрос, что до момента внедрения технологии производства микросхем также могут измениться.


При помощи информации: USC



Добавить комментарий

Внимание: Спам не пройдёт. Работает фильтрация комментариев. *